測量顯微鏡

一、儀(yi) 器的主要用途 

測量顯微鏡是光學計量儀(yi) 器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用範圍極
廣，主要用途如下：
1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基麵距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽
寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鑽孔模板及幾何形狀複雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表麵光潔度，鑒定冶金工業(ye) 的礦石標本。檢定印刷照相製版，檢驗紡織纖維等.

二、儀(yi) 器的主要技術指標 
x軸移動測量範圍： 50毫米
y軸移動測量範圍： 13毫米
測微器分度值： 0.01毫米
測量台轉動範圍： 不限
測量台刻度盤分度範圍：　0° - 360°
測量台刻度盤之分度值： 1°
測量台刻度盤遊標讀數示值： 6"
照明方式：反射光（自然光）
測量精度：儀(yi) 器值誤差（5+L/15）微米
儀(yi) 器示值誤差：包括測量誤差與(yu) 儀(yi) 器係統誤差。
儀(yi) 器之主要尺寸： 測量台與(yu) 物鏡間之zui大距離：80毫米
測量工作台直徑： 120毫米
儀(yi) 器外形尺寸：　 高325長262寬220毫米
儀(yi) 器重量級： 約10.6公斤
顯微鏡目鏡管同棱鏡成為(wei) 一體(ti) 繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦
注：測量地點溫度變化（20 ± 3）C；L—被測件長度（毫米）