熱台偏光顯微鏡（高分子材料）

簡要描述：熱台偏光顯微鏡熱台,高溫熱台,顯微鏡熱台,偏光熔點儀(yi) ,XPR-500型透射偏光熔點測定儀(yi) （熱台）是地質、礦產(chan) 、冶金、石油化工、化學纖維、半導體(ti) 工業(ye) 以及藥品檢驗等部門和相關(guan) 高等院校的高分子...等專(zhuan) 業(ye) Z常用的專(zhuan) 業(ye) 實驗儀(yi) 器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體(ti) 在加熱狀態下的形變、色變及物體(ti) 的三態轉化。

產品型號：XPR-500C
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-11-06
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偏光顯微鏡熱台

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品牌	CAIKON/蔡康光學	價格區間	麵議
產地類別	國產	應用領域	化工,地礦,製藥

偏光顯微鏡（熱台）：XPR-500C

熱台偏光顯微鏡熱台,高溫熱台,顯微鏡熱台,偏光熔點儀

一、儀(yi) 器的主要用途和特點
XPR-500型透射偏光顯微鏡（熱台）是地質、礦產(chan) 、冶金、石油化工、化學纖維、半導體(ti) 工業(ye) 以及藥品檢驗等部門和相關(guan) 高等院校的高分子...等專(zhuan) 業(ye) zui常用的專(zhuan) 業(ye) 實驗儀(yi) 器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體(ti) 在加熱狀態下的形變、色變及物體(ti) 的三態轉化。
本係統廣泛應用於(yu) 高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用於(yu) 研究物體(ti) 的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀(yi) XPR-500係統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控製、模量學等總多研究領域的當前技術，多年研究開發的結果，在國內(nei) 享有.本儀(yi) 器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數:

名稱	規格
總放大倍數：	40X---630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65
	63X/0.85
目鏡	WF10X/18mm
	10X網格目鏡
	10X刻度目鏡
	10X分劃目鏡
試片	石膏1λ試片
	雲(yun) 母1/4λ試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
聚光鏡	N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡
集光鏡	高亮度固定式照明
載物台	360度旋轉，直徑160mm
移動尺	移動範圍30mm×40mm
鏡筒	45度平拉式三目觀察（52mm-74mm）
光源	鹵素燈（6V/30W.AC 85V-230V）亮度可調

2.熔點儀技術參數:

熱台組成	性能
顯微精密控溫儀(yi)	在 20倍物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控製；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內(nei) 可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
顯微加熱平台	可以隨載物台移動、工作區加熱麵積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低於(yu) ± 0.1 • 起始溫度室溫 • 工作區加熱使用麵積至少 1X1厘米 • 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 • 透光區域 2mm以上，可調 • 顯示溫度與(yu) 實際溫度誤差不超過 ± 0.2 • 熱台可以隨載物台移動在加熱狀態下zui高可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、係統數字性

XPR-500C型偏光熔點儀係統是將精銳的光學顯微鏡技術、*光電轉換技術、*的計算機成像技術和精密的溫控技術*地結合在一起而開發研製成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，並對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。

四、係統組成

1、偏光顯微鏡XP-500　　　　　　　　　
2、電腦適配鏡
3、彩色攝像器機
4、A/D轉換器（圖形采集設備）
5、熱台
6、計算機（選購）

五、選購部分

1.偏光分析軟件

進口熱台價(jia) 格目錄

熱台使用說明

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